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深圳市鸿怡电子有限公司

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QFN56 老化座 0.4间距 芯片测试座 翻盖编程座 IC550-0564-010-G
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产品: 浏览次数:268QFN56 老化座 0.4间距 芯片测试座 翻盖编程座 IC550-0564-010-G 
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最后更新: 2017-11-01 02:36
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详细信息

“QFN56 老化座 0.4间距 芯片测试座 翻盖编程座 IC550-0564-010-G”参数说明

是否有现货: 形状: 矩形
制作工艺: 注塑 接触件材质: PEI
绝缘体材质: 铍铜 针数: 56
接口类型: ZIF 特性: 耐高温
型号: IC550-0564-010-G 规格:
商标: HMILU 包装: PPI
产量: 1000000

“QFN56 老化座 0.4间距 芯片测试座 翻盖编程座 IC550-0564-010-G”详细介绍

QFN56 老化座 0.4间距 芯片测试座 翻盖编程座 IC550-0564-010-G
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉!翻盖弹片老化座,QFN56-0.4 HMILU自有品牌,大量现货当天发! 【0.4间距/不带板】
QFN56-0.4翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.4mm

测试座:QFN56-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-56-0.4

引脚间距(mm): 0.4

脚位:56

适配芯片尺寸:7*7mm
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